Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
артикул: 67280497
11,000.00 руб.-3%
10,670.65 руб.
Доставка из: Россия
   Характеристики
age: 0
author: Andrew Thye Shen Wee
genres_list: 5671
ISBN: 9783527833948
lang: en
publisher: John Wiley & Sons Limited
Type: book
Форматы: PDF
   График изменения цены & курс обмена валют

Пользователи также просматривали