/ / /

Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для академического бакалавриата

ЮРАЙТ

артикул: 2140506

1,428.00 грн.

Доставка из: Украина

Описание

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Содержание учебного пособия соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.

author:	Суворов Э.В.
binding:	24.5 x 16 x 1.7
ISBN:	978-5-534-09995-9
language:	Русский
page_extent:	272
publisher:	ЮРАЙТ
series:	Бакалавр. Академический курс
Type:	book
Weight:	0.37 кг.
year:	2019
Автор:	Суворов Э.В.
Год издания:	2019
Дата обновления позиции:	06-54-2021
Доставка/Оплата:	Товар под заказ. До 25 рабочих дней
Издательство:	ЮРАЙТ
Код товара:	2197285
Количество страниц:	272
Переплет:	Твердый
Серия:	Бакалавр. Академический курс
Формат:	24.5 x 16 x 1.7
Язык произведения:	Русский

Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для академического бакалавриата

Пользователи также просматривали