Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для академического бакалавриата

Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для академического бакалавриата
ЮРАЙТ
артикул: 2140506
1,428.00 грн.
Доставка из: Украина
   Описание
В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Содержание учебного пособия соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
   Характеристики
author: Суворов Э.В.
binding: 24.5 x 16 x 1.7
ISBN: 978-5-534-09995-9
language: Русский
page_extent: 272
publisher: ЮРАЙТ
series: Бакалавр. Академический курс
Type: book
Weight: 0.37 кг.
year: 2019
Автор: Суворов Э.В.
Год издания: 2019
Дата обновления позиции: 06-54-2021
Доставка/Оплата: Товар под заказ. До 25 рабочих дней
Издательство: ЮРАЙТ
Код товара: 2197285
Количество страниц: 272
Переплет: Твердый
Серия: Бакалавр. Академический курс
Формат: 24.5 x 16 x 1.7
Язык произведения: Русский
   График изменения цены & курс обмена валют

Пользователи также просматривали